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應用案例用於 Warp/失真偵測及 Loop/蛇行控制

何謂「變形/失真偵測」以及「迴圈/蛇行控制」?

檢測物體的彎曲或變形,以及控制薄膜或片材的下垂或橫向偏移,分別稱為「彎曲/變形檢測」與「環狀/蜿蜒控制」。

詳細應用案例用於 Warp/失真偵測及 Loop/蛇行控制

 

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