基板玻璃彎曲度測量
CDX 系列雷射位移感測器用於測量玻璃基板的翹曲度。 鏡面反射型 CDX-L15A 能夠以小至 0.25 μm 的單位測量透明玻璃基板的翹曲度。此外，憑藉最高 12.5 μs 的採樣週期，可實現高速測量，採樣速度最高可達傳統機型的八倍。
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超高精度雷射位移計
CDX系列
開發出全球線性度排名第一的影像感測器：ATMOS Direct Ethernet連接方式配備 Web 伺服器
應用FPD/PV 的範例
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CDX 系列雷射位移感測器用於測量玻璃基板的翹曲度。 鏡面反射型 CDX-L15A 能夠以小至 0.25 μm 的單位測量透明玻璃基板的翹曲度。此外，憑藉最高 12.5 μs 的採樣週期，可實現高速測量，採樣速度最高可達傳統機型的八倍。
超高精度雷射位移計
開發出全球線性度排名第一的影像感測器：ATMOS Direct Ethernet連接方式配備 Web 伺服器