CD33系列

新增的鏡面反射類型可以測量透明物體（例如玻璃工件）以及鏡面物體（例如晶圓等）。這意味著，以前使用漫反射類型難以測量的透明和鏡面物體現在可以穩定地進行測量。

• 使用鏡面反射法測量透明物體時，不僅可以測量表面位移，還可以測量厚度。如下圖所示，當雷射光束以一定角度發射時，接收元件會接收從玻璃前後表面反射的光線。透過測量這些反射光波峰之間的距離，即可實現厚度測量。

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• 可與三菱電機 MELSEC-Q 系列連接的UQ1-02位移感知器控制單元！
  除了完全不需要任何通訊設定之外，使用專門的 UQ1 Navigator 軟體，任何人都可以在短時間內輕鬆完成設定。

  • 可與 CD33 系列的 RS-422 型搭配使用

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• 感測器頭部整合了擴大機和所有控制功能，無需擔心控制面板的安裝空間問題。
  它還具有重量僅約 65 克的輕巧特點，可以安裝到晶片貼裝機或機器人手臂等可移動部件上。

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• 能夠識別真實波形的亞像素處理

  採用亞像素處理技術，透過對每個 CMOS 元件像素進行分割來實現識別。透過精確偵測真實的接收光波形，可以準確測量到工件的距離。重複測量精度為 2 μm*，並支援高精度位移測量。

  

• 高精度靈敏度切換功能，有效避免工件材質和顏色帶來的影響

  快門的開度會根據工件的反射率自動切換。透過控制接收光量並不斷調整至最佳靈敏度，我們成功地將顏色和材質造成的誤差降至最低。