金屬框架翹曲度的測量

  • 金屬框架翹曲度的測量

CD5-W500雷射位移感測器用於測量真空腔內半導體金屬框架的翹曲。其測量範圍為500±200毫米,可透過真空腔的觀察窗進行遠距離測量。

使用的產品

  • 高性能多單元雷射位移計

    CD5系列

    精度、穩定性和可操作性的更高層次整合

    CD5系列

半導體應用實例

聯絡我們

我們的專家會迅速為您提供最符合您需求的方案,並在整個過程中提供持續支援。

產品諮詢/技術支援
我的清單
20