任務
產業
產品已使用

矽晶圓錯位檢測

  • 矽晶圓錯位檢測

BGS-HDL 系列可偵測晶圓載台上矽晶圓的對位偏差。對位偏差的晶圓高度可能比正常情況高出多達 5 毫米,而 BGS-HDL05T 則能偵測到 0.08 毫米的高度差異,確保高精度的檢測表現。

產品二手

應用半導體的範例

聯絡我們

我們的專家會迅速為您量身打造最適合的方案,並在整個過程中提供持續的支援。

產品諮詢/技術支援
我的清單
20