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透過測量片材的下垂度來控制其張力。 CD5-85 能夠以 1 µm 的重複精度測量下垂度，從而可以精確、穩定地控制和保持片材張力。
高性能多單元雷射位移計
精度、穩定性和可操作性的更高層次整合
檢查電子元件是否存在
偵測傳送帶上的零件托盤
焊接前檢查分立電阻器的位置
檢查托盤中凸起的積體電路
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