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測量片材的下垂度以控制其張力。CD5‑85 可測量下垂度，重複精度達 1 µm，從而能夠精確且穩定地控制並維持片材張力。
高性能多單元雷射位移計
將精準度、穩定性與操作性提升至全新層次
檢測 JEDEC 托盤中的 IC 晶片是否存在
檢查電子元件是否齊全
偵測輸送帶上的零件托盤
在焊接前檢查分立電阻器的位置
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