檢測 JEDEC 托盤中的 IC 晶片是否存在

BGS-ZL10x 雷射 BGS 感測器可用於偵測 JEDEC 托盤中是否含有 IC 晶片。 由於 IC 晶片為黑色且反射率較低，若使用傳統的 LED光源漫反射式感測器，可能難以實現穩定的檢測。然而，採用雷射 + BGS（背景抑制）技術的 BGS-ZL10x，能夠可靠地檢測黑色 IC 晶片的存有與否。 當 IC 晶片與托盤槽底之間的高度差較小時，建議選用ZA-B系列型號的 CMOS 雷射感測器（OLED 顯示器），因其接收器內建 CMOS影像感測器。例如，ZA-BL60型號即可辨識低至 0.08 mm 的高度差。

• 標準尺寸感測器

  BGS-ZL/BGS-Z系列

  雷射及高功率窄光束 LED 感測器