檢測 JEDEC 托盤中是否有積體電路晶片

BGS-ZL10x 雷射背景抑制 (BGS) 感測器可用於檢測 JEDEC 托盤中的 IC 晶片。由於 IC 晶片為黑色且反射率低，使用傳統的 LED 光源漫反射感測器可能難以實現穩定檢測。然而，採用雷射 + 背景抑制 (BGS) 技術的 BGS-ZL10x 可以可靠地檢測黑色 IC 晶片。如果 IC 晶片與托盤底部之間的高度差較小，建議使用配備 OLED 顯示器的 ZA-B 系列 CMOS 雷射感測器，因為它們在接收器中整合了 CMOS 影像感測器。例如，ZA-BL60 可以區分小至 0.08 毫米的高度差。

• 標準尺寸感測器

  BGS-ZL/BGS-Z系列

  雷射和高功率窄光束LED感測器