檢測 JEDEC 托盤中是否含有 IC 晶片

BGS-ZL10x 雷射背景抑制 (BGS) 感測器可用於檢測 JEDEC 晶片托盤中的 IC 晶片。由於 IC 晶片為黑色且反射率率低，使用傳統的 LED光源漫反射感測器可能難以進行穩定檢測。然而，採用雷射 + 背景抑制 (BGS) 技術的 BGS-ZL10x 可以可靠地檢測黑色 IC 晶片。如果 IC 晶片與托盤底部之間的高度差較小，建議使用配備OLED 顯示器ZA-B系列CMOS雷射感測器，因為它們在接收器中整合了CMOS影像感測器。例如，ZA-BL60可以區分小至 0.08 毫米的高度差。

• 標準尺寸感測器

  BGS-ZL/BGS-Z系列

  雷射及高功率窄光束 LED 感測器