系列
模型
相關內容
IC/LSI的共面性是在元件拾取後測量的。 CD5-85A能夠以0.25微米的重複精度精確測量共平面性。
高性能多單元雷射位移計
精度、穩定性和可操作性的更高層次整合
檢查電子元件是否存在
偵測傳送帶上的零件托盤
焊接前檢查分立電阻器的位置
檢查托盤中凸起的積體電路
我們的專家會迅速為您提供最符合您需求的方案，並在整個過程中提供持續支援。
