晶片部件的邊緣偵測

  • 晶片部件的邊緣偵測

會對噴嘴捕捉到的晶片元件進行邊緣偵測。過去吸力噴嘴出現在背景中,難以準確偵測邊緣。使用 OPR 時,可透過附件鏡頭切換至低角度照明。僅以低角度照明照射晶片元件,則不會捕捉噴嘴與背景,從而清晰成像晶片邊緣。

使用產品

  • 感測用LED環形照明

    OPR系列

    「FALUX 感測」技術可實現亮度監測與回饋控制

    OPR系列

應用案例適用於電子元件

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