晶片部件邊緣檢測

對吸嘴拾取的晶片元件進行邊緣檢測。以往，吸嘴會出現在背景中，導致難以準確偵測邊緣。利用 OPR 技術，可以透過附加透鏡切換到低角度照明。透過低角度照明僅照射晶片元件，可以避免拍攝到吸嘴和背景，從而清晰地成像晶片邊緣。

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