微晶片目視檢查

OPX-18 可用於微晶片元件的目視檢測。它採用立方體分光鏡作為光學元件，抑制了傳統半鏡式檢測儀中常見的重影現象，從而提供更高解析度的影像。此外，它還能偵測細微刮痕。

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