測量透明薄膜的厚度

CD5‑LW25A 雷射位移感測器用於測量透明薄膜與薄片的厚度。憑藉 0.37 µm 的重複精度，即使對透明材料也能實現高精度測量。透過安裝兩個相對而設的感測器頭，並設定運算參數，即可達成穩定的厚度測量。

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