測量透明薄膜的厚度

CD5-LW25A雷射位移感測器用於測量透明薄膜和薄片的厚度。憑藉0.37 µm的重複性，即使是透明材料也能進行高精度測量。透過安裝兩個相對放置的感測器頭並配置計算參數，即可實現穩定的厚度測量。

使用的產品

我們的專家會迅速為您提供最符合您需求的方案，並在整個過程中提供持續支援。