檢查電子元件是否正確放置在托盤上。

CD33雷射位移感測器用於偵測托盤中電子元件的存在或重疊。高精度CD33-30x可偵測小至12 µm的高度差。憑藉類比輸出和比較器輸出，只需簡單的開/關訊號即可判斷元件是否存在重疊（NG）。

• 小型雷射位移計

  CD33系列

  半掌大小。非常適合與小型機器內建使用。