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透過 LS 感測器測量矽基板的停止位置（X 方向），可將正確的位置資訊傳輸至接收裝置。此舉可避免在製程階段之間的交接過程中，造成矽基板受損。
二維的雷射位移計
用於快速、精確測量高度和寬度的線束
檢測玻璃的右側
檢測玻璃粉容器
檢測輥筒上金屬箔邊緣的上升情況
基板玻璃彎曲度測量
我們的專家會迅速為您提供最符合您需求的方案，並在整個過程中提供持續支援。
