元件晶片及是否存在的驗證

CD2H系列雷射位移計將由 專為 開發的「ATMOS」 整合至接收元件中。「ATMOS」能透過適當的 持續進行位置檢測，因為它會即時追蹤從檢測對象反射而來的光量。 這使得測量小型元件上的微小碎屑，以及從中長距離驗證以傾斜角度安裝的黑色元件是否存在成為可能。◆ 測量小型元件上的微小碎屑　短距離型 可達到 0.1 μm 的解析度與 ±0.01 mm 的線性度。 ◆ 從中長距離驗證以傾斜角度安裝的元件是否存在　長距離型 可實現 200 mm 至 1,200 mm 的寬廣測量範圍。OPTEX FA雷射位移計影像感測器受光CD2H-30 CD2H-700

• 雷射位移計

  CD2H系列

  業界頂尖*、多功能中階感測器