驗證元件晶片及其是否存在
CD2H系列雷射位移感測器在其接收元件中整合了OPTEX FA專為雷射位移感測器開發的「ATMOS」影像感測器。 「ATMOS」感測器能夠即時追蹤被測物體反射的光量，從而始終在接收到適量光的情況下進行位置檢測。這使得測量小型元件上的微小缺損以及驗證中遠距離傾斜安裝的黑色元件的存在成為可能。 ◆ 測量小型元件上的微小缺損：短程型CD2H-30的解析度為0.1 μm，線性度為±0.01 mm。 ◆ 驗證中遠距離傾斜安裝的元件的存在：長程型CD2H-700的測量範圍為200 mm至1200 mm。
使用的產品
-
雷射位移計
CD2H系列
同類最佳*，一體化中階感測器
汽車應用實例
- 我的清單
- 20