偵測托盤上殘留的坯件

DR‑Q400Tx 用於檢查放置於成型機前方的托盤上是否殘留任何坯件。DR‑Q400Tx 採用窄光束的 2 級雷射，可避免偵測到相鄰排的坯件。其可見光點使光軸對準變得容易，並能清晰確認偵測點。

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