ความรู้พื้นฐาน ของ ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์

คำศัพท์พื้นฐานที่คุณควรรู้

ต้องเลือกแบบจำลองให้เหมาะสม เนื่องจากระยะการวัด ความแตกต่างของความสูง และช่วงการเคลื่อนที่ระหว่างเซ็นเซอร์กับวัตถุอยู่ในช่วงนี้

• 

ความคลาดเคลื่อนเชิงเส้น คือ ความคลาดเคลื่อนระหว่างค่าที่วัดได้กับการเคลื่อนที่หรือระยะทางจริง
สำหรับเซ็นเซอร์วัดระยะการเคลื่อนที่ จะอธิบายถึงความแตกต่างสูงสุดของระยะทาง

• 

หากเซ็นเซอร์ไม่มีข้อผิดพลาด ระยะทางจริงและระยะทางที่วัดได้จะเรียงตัวเป็นเส้นตรง ซึ่งเป็นเส้นตรงในอุดมคติ
อย่างไรก็ตาม ในความเป็นจริง ผลการวัดจริงที่แสดงในกราฟมีความคลาดเคลื่อนจากเส้นกราฟในอุดมคติ
ค่าความแปรปรวนที่คำนวณเป็นเปอร์เซ็นต์ของค่าเต็มสเกล คือค่าความเป็นเส้นตรง
สามารถคำนวณค่าระยะทางได้โดยใช้สูตรต่อไปนี้

〈สูตรการคำนวณ〉
ความเป็นเส้นตรง = +/- เปอร์เซ็นต์ x ค่าเต็มสเกล

<ตัวอย่าง>
ความแม่นยำเชิงเส้น: +/-0.1%, ช่วงเต็มสเกล: +/-20 มม.
ความเป็นเส้นตรง = +/-0.1% x +/-20 มม.
= +/-0.1% x 40 มม.
=+/-0.04 มม., +/-40 ไมโครเมตร

ช่วงเวลาการสุ่มตัวอย่างคือเวลาที่ใช้ในการวัดค่าหนึ่งครั้ง ส่วนความถี่การสุ่มตัวอย่างคือจำนวนการวัดต่อวินาที (Hz)
เพื่อวัดวัตถุที่มีการสะท้อนแสงต่ำ เช่น ยางสีดำ จำเป็นต้องตั้งช่วงเวลาการสุ่มตัวอย่างให้ยาวขึ้น เพื่อเพิ่มปริมาณสัญญาณที่สะท้อนกลับ (การรับแสง)
เพื่อวัดวัตถุที่มีการสะท้อนสูง เช่น โลหะที่ขัดเงา จำเป็นต้องตั้งช่วงเวลาการสุ่มตัวอย่างให้สั้น เพื่อหลีกเลี่ยงไม่ให้ปริมาณสัญญาณการวัด (การรับแสง) ถึงระดับอิ่มตัว
เซ็นเซอร์วัดการเคลื่อนที่ของ OPTEX FA มาพร้อมฟังก์ชัน AUTO สำหรับช่วงเวลาการสุ่มตัวอย่าง ซึ่งจะปรับช่วงเวลาการสุ่มตัวอย่างให้เหมาะสมที่สุดสำหรับการวัด เพื่อลดข้อผิดพลาดให้น้อยที่สุดเมื่ออัตราการสะท้อนแสงเปลี่ยนแปลง

นี่คือลักษณะของค่าที่วัดได้ ซึ่งเปลี่ยนแปลงไปตามการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิการทำงาน
สิ่งนี้ถูกอธิบายเป็น +/- 0.08%FS/Cº หรือ 0.2mm/K (เคลวิน)

สำหรับเซ็นเซอร์วัดการเคลื่อนที่ที่มีค่าความคลาดเคลื่อน +/-0.08%FS/Cº และช่วงการวัด 50+/-10mm,
20 mm, +/-10 mm, x 0.0008 = 16 μm
ค่าที่วัดได้จะผันผวนสูงสุด 16μm ต่อ 1Cº

หลังจากเปิดเครื่องแล้ว นี่คือเวลาที่เซ็นเซอร์จะต้องทำงานให้ได้ตามข้อกำหนด
(เวลาที่อุณหภูมิภายในของเซ็นเซอร์คงที่)
โดยทั่วไปจะใช้เวลาประมาณ 5 ถึง 30 นาที ขึ้นอยู่กับรุ่น

ค่าที่วัดได้ของวัตถุที่กำลังเคลื่อนที่อาจผันผวนได้ แม้ว่าระยะห่างจากวัตถุจะไม่ได้เปลี่ยนแปลงก็ตาม
ปรากฏการณ์นี้เกิดขึ้นเนื่องจากการเคลื่อนที่ของจุดโฟกัสบนองค์ประกอบรับแสง ขณะที่วัตถุเคลื่อนที่
การเปลี่ยนแปลงของค่าที่วัดได้เมื่อเทียบกับวัตถุที่เคลื่อนที่ เรียกว่า ความละเอียดในการเคลื่อนที่ (moving resolution)
สำหรับวัตถุที่มีพื้นผิวเรียบ เช่น กระจกหรือแผ่นเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ จะไม่เกิดการผันผวน แต่สำหรับวัตถุอื่นๆ ส่วนใหญ่ จะเกิดการผันผวนขึ้น
ดังนั้น เมื่อทำการวัดในขณะที่วัตถุเคลื่อนที่ จำเป็นต้องคำนึงถึงความละเอียดในการเคลื่อนที่ด้วย
หากสามารถเลือกจุดเลเซอร์แบบแคบและแบบกว้างได้ โมเดลที่มีลำแสงกว้างจะช่วยลดอิทธิพลของความละเอียดที่เปลี่ยนแปลงไปได้
ค่าความละเอียดในการเคลื่อนที่ไม่ได้ระบุไว้ในแคตตาล็อก เนื่องจากค่าดังกล่าวแตกต่างกันไปตามสภาพพื้นผิวของวัตถุ การเปลี่ยนแปลงนี้จำเป็นต้องได้รับการยืนยันจากการทดสอบจริง