구성 요소 칩 및 존재 여부 검증

CD2H 시리즈 레이저 변위 센서에는 OPTEX FA에서 레이저 변위 센서 전용으로 개발한 “ATMOS” 이미지 센서가 수광 소자에 탑재되어 있습니다. “ATMOS”는 감지 대상에서 반사되는 빛의 양을 실시간으로 추적하므로, 항상 적절한 양의 투광를 유지하며 위치 감지를 수행할 수 있습니다. 이를 통해 소형 부품의 미세한 칩을 측정하고, 중장거리에서 비스듬하게 장착된 검은색 부품의 유무를 확인할 수 있습니다. ◆ 소형 부품의 미세한 칩 측정 　단거리형 CD2H-30은 0.1 μm의 분해능과 ±0.01 mm의 선형성을 달성합니다. ◆ 중·장거리에서 비스듬히 장착된 부품의 유무 확인 　장거리형 CD2H-700은 200 mm에서 1,200 mm에 이르는 넓은 측정 범위를 제공합니다.

• 레이저 변위 센서

  CD2H 시리즈

  동급 최고*, 올인원 중급 센서