구성 요소 칩 및 존재 여부 검증

CD2H 시리즈 레이저 변위 센서는 OPTEX FA에서 레이저 변위 센서 전용으로 개발한 "ATMOS" 이미지 센서 수광 소자에 내장하고 있습니다. "ATMOS"는 검출 object에서 반사되는 투광의 양을 실시간으로 추적하여 항상 적절한 양의 수신광으로 위치 검출을 수행할 수 있습니다. 이를 통해 소형 부품의 미세한 칩을 측정하고, 중거리에서 장거리까지 각도로 장착된 블랙 부품의 존재 여부를 확인할 수 있습니다. ◆ 소형 부품의 미세 칩 측정 단거리형 CD2H-30은 0.1μm의 해상도와 ±0.01mm의 선형성을 제공합니다. ◆ 중거리에서 장거리까지 각도로 장착된 부품의 존재 여부 확인 장거리형 CD2H-700은 200mm에서 1,200mm에 이르는 넓은 측정 범위를 제공합니다.

• 레이저 변위 센서

  CD2H 시리즈

  동급 최고*, 올인원 중급 센서