마이크로칩의 육안 검사

OPX-18은 마이크로칩 부품의 육안 검사를 가능하게 합니다. 광학 소자로 큐브 빔 스플리터를 채택하여 기존 하프 미러 방식에서 흔히 발생하는 고스트 현상을 억제하고 더욱 선명한 이미지를 제공합니다. 또한 미세한 흠집까지 감지할 수 있습니다.

사용된 산업

저희 전문가들은 고객의 요구에 맞는 최적의 계획을 신속하게 제시하고, 전 과정에 걸쳐 지속적인 지원을 제공합니다.