Medición del espesor de la película «sustrato de vidrio» y de la altura de la máscara de exposición

Mediante el sensor de desplazamiento láser de tipo reflexión especular CMOS CD33‑L30, se llevan a cabo tanto el control de la altura de la máscara de exposición como la medición del espesor del vidrio con una única configuración. Se mide la distancia a la máscara de exposición para ajustar la altura óptima; posteriormente, cuando el sustrato de vidrio pasa por encima, se mide su espesor. En el caso de sustratos de vidrio de alta transparencia, se pueden medir espesores de 0.7 mm o superiores desde un solo lado, lo que elimina la necesidad de una disposición opuesta de dos sensores.

• Sensores de desplazamiento láser pequeños

  Serie CD33

  Del tamaño de media palma. Ideal para su uso integrado en máquinas más pequeñas.

  

• Unidades de comunicación para sensores de desplazamiento

  Serie UQ1

  Se puede conectar a los PLC de Mitsubishi Electric. La primera unidad de control con sensor de desplazamiento del sector.