01 새롭게 개발된 이미지 센서 "ATMOS"를 통해 매우 안정적인 측정이 가능해졌습니다.
검은색 고무나 광택이 나는 금속의 치수를 측정하는 것은 측정 결과가 항상 안정적이지 않기 때문에 쉬운 작업이 아닙니다.
높은 선형성을 자랑하는 레이저 변위 센서 CDX 시리즈는 새롭게 개발된 이미지 센서 "ATMOS"를 탑재하여 다양한 응용 분야에서 안정적인 측정 결과를 제공합니다. 다음은 모든 공작물의 측정을 안정적으로 만들어주는 Optex-FA의 새로운 기술에 대한 소개입니다.
높은 선형성을 자랑하는 레이저 변위 센서 CDX 시리즈는 새롭게 개발된 이미지 센서 "ATMOS"를 탑재하여 다양한 응용 분야에서 안정적인 측정 결과를 제공합니다. 다음은 모든 공작물의 측정을 안정적으로 만들어주는 Optex-FA의 새로운 기술에 대한 소개입니다.
측정 결과가 불안정한 이유
변위 센서가 정확하게 측정하기 위한 가장 중요한 요소 중 하나는 이미지 센서 장치에 적절한 광량을 확보하는 것입니다. 광량이 너무 많거나 너무 적으면 광량 곡선을 이용하여 계산된 피크 위치가 정확하지 않게 됩니다.
기존의 변위 센서는 피드백 제어를 사용하여 빛의 양을 조절하지만, 데이터를 샘플링하는 데 시간이 걸리고 측정 결과가 안정적이지 않습니다.
기존의 변위 센서는 피드백 제어를 사용하여 빛의 양을 조절하지만, 데이터를 샘플링하는 데 시간이 걸리고 측정 결과가 안정적이지 않습니다.
ATMOS의 자동 전기 셔터
이러한 문제들을 해결하기 위해 "ATMOS" 이미지 센서를 새롭게 개발했습니다. "ATMOS"는 "자동 튜닝 cMOS"의 약자로, 이미지 센서 칩 자체에 제어 회로가 내장되어 있어 피드백 과정이 필요 없는 기술입니다.
전자식 셔터가 칩에서 실시간으로 적절한 광량을 조절하도록 제어되기 때문에 단 한 번의 샘플링만으로도 충분한 광량을 얻을 수 있습니다. 이러한 방식으로 이미지 센서가 받는 광량이 포화되지 않고 모든 종류의 피사체에 대해 적절한 광량을 확보하여 피크의 중심 위치를 안정적으로 유지하는 데 필요한 적절한 광 곡선을 얻을 수 있습니다.
전자식 셔터가 칩에서 실시간으로 적절한 광량을 조절하도록 제어되기 때문에 단 한 번의 샘플링만으로도 충분한 광량을 얻을 수 있습니다. 이러한 방식으로 이미지 센서가 받는 광량이 포화되지 않고 모든 종류의 피사체에 대해 적절한 광량을 확보하여 피크의 중심 위치를 안정적으로 유지하는 데 필요한 적절한 광 곡선을 얻을 수 있습니다.
어떻게 다른가요? «실험»
다음은 변위 센서를 금속 표면(광택 있는 금속 표면)과 무광택 검은색 고무 표면(무광택 검은색 고무)에 있는 목표물까지 이동시켰을 때의 거리 측정 결과입니다.
기존 이미지 센서는 대상이 바뀌면 광량을 조절해야 하므로 조절이 완료될 때까지 정확한 측정이 불가능하지만, "ATMOS" 기술이 적용된 CDX 시리즈는 대상이 바뀐 직후에도 조절 기간이 필요 없습니다.
기존 이미지 센서는 대상이 바뀌면 광량을 조절해야 하므로 조절이 완료될 때까지 정확한 측정이 불가능하지만, "ATMOS" 기술이 적용된 CDX 시리즈는 대상이 바뀐 직후에도 조절 기간이 필요 없습니다.
