01 새로 개발된 이미지 센서 “ATMOS”를 통해 매우 안정적인 측정이 가능해졌습니다.
검은색 고무나 광택이 나는 금속의 치수를 측정하는 것은 측정 결과가 항상 안정적이지 않기 때문에 쉬운 작업이 아닙니다.
높은 선형성을 자랑하는 레이저 변위 센서 CDX 시리즈는 새로 개발된 광학 기술(이미지 센서, "ATMOS")을 적용하여 이러한 응용 분야에서 안정적인 측정 결과를 제공합니다. 다음은 어떤 공작물이라도 안정적으로 측정할 수 있게 해준 Optex-FA의 신기술에 대한 소개입니다.
높은 선형성을 자랑하는 레이저 변위 센서 CDX 시리즈는 새로 개발된 광학 기술(이미지 센서, "ATMOS")을 적용하여 이러한 응용 분야에서 안정적인 측정 결과를 제공합니다. 다음은 어떤 공작물이라도 안정적으로 측정할 수 있게 해준 Optex-FA의 신기술에 대한 소개입니다.
측정 결과가 불안정한 이유
변위 센서가 정확하게 측정하기 위한 가장 중요한 요소 중 하나는 이미지 센서 장치에 적절한 양의 빛이 닿도록 하는 것입니다. 빛의 양이 너무 많거나 너무 적으면, 빛의 양 곡선을 통해 계산된 피크의 위치가 정확하지 않게 됩니다.
기존의 변위 센서는 피드백 제어를 통해 광량을 조절하지만, 이 과정에는 시간이 소요되고 데이터를 샘플링하는 데 일정 시간이 걸리며, 측정 결과도 그다지 안정적이지 않습니다.
기존의 변위 센서는 피드백 제어를 통해 광량을 조절하지만, 이 과정에는 시간이 소요되고 데이터를 샘플링하는 데 일정 시간이 걸리며, 측정 결과도 그다지 안정적이지 않습니다.
ATMOS의 자동 전기 셔터
이러한 문제들을 해결하기 위해 저희는 “ATMOS” 이미지 센서를 새롭게 개발했습니다. “ATMOS”는 “Auto Tuning cMOS”의 약자로, 이미지 센서 칩에 제어 회로가 내장되어 있어 피드백 과정이 필요하지 않습니다.
칩 상에서 전기 셔터를 제어하여 실시간으로 적절한 광량을 확보하므로, 적절한 광량을 얻기 위해 단 한 번의 샘플링만으로도 충분합니다. 이러한 방식으로, 이미지 센서가 받는 광량은 포화되지 않으며, 모든 유형의 공작물에 대해 적절한 광량을 확보할 수 있고, 피크의 정확한 중심 위치를 안정적으로 파악할 수 있는 적절한 광도 곡선을 얻을 수 있습니다.
칩 상에서 전기 셔터를 제어하여 실시간으로 적절한 광량을 확보하므로, 적절한 광량을 얻기 위해 단 한 번의 샘플링만으로도 충분합니다. 이러한 방식으로, 이미지 센서가 받는 광량은 포화되지 않으며, 모든 유형의 공작물에 대해 적절한 광량을 확보할 수 있고, 피크의 정확한 중심 위치를 안정적으로 파악할 수 있는 적절한 광도 곡선을 얻을 수 있습니다.
어떻게 다른가요? «실험»
다음은 변위 센서를 금속 대상물에서 검은색 고무 대상물로 이동시키면서, 변위 센서와 대상물(반짝이는 금속 표면 및 무광 검정색 고무) 사이의 거리를 측정한 결과입니다.
기존의 이미지 센서는 대상물이 변경될 때 광량을 조정해야 하며, 조정이 완료될 때까지 정확하게 측정할 수 없는 반면, “ATMOS” 기능을 탑재한 CDX 시리즈는 대상물이 변경된 직후에도 별도의 조정 시간이 필요하지 않습니다.
기존의 이미지 센서는 대상물이 변경될 때 광량을 조정해야 하며, 조정이 완료될 때까지 정확하게 측정할 수 없는 반면, “ATMOS” 기능을 탑재한 CDX 시리즈는 대상물이 변경된 직후에도 별도의 조정 시간이 필요하지 않습니다.
